机械工程学报 ›› 2026, Vol. 62 ›› Issue (13): 410-417.doi: 10.3901/JME.260704
李禹泽, 闫英, 何涛, 李涵, 李贺男, 万佳奇, 方子铿, 郭东明
LI Yuze, YAN Ying, HE Tao, LI Han, LI Henan, WAN Jiaqi, FANG Zikeng, GUO Dongming
摘要: 纳米级厚度的光刻胶薄膜在微纳米加工领域,尤其是在半导体制造和微电子器件制造中应用广泛。针对光刻胶薄膜的制备方法,刮刀涂布法因其设备结构简单、溶液利用率高、涂布过程可控,且可适用于大尺寸或大长宽比基底而备受关注。然而,在实际刮涂过程中,单次刮涂仍存在膜厚值不理想及厚度不均匀等问题。为此,提出通过多次刮涂来提高涂布质量,并对不同刮涂次数进行单变量对比实验;同时,检测各组实验中光刻胶膜厚及不均匀性,并利用COMSOL软件对多次刮涂过程中膜厚减薄与均匀性提升的过程进行仿真分析。结果表明,光刻胶薄膜厚度随刮涂次数增加呈反比例函数下降,且多次刮涂可进一步提升薄膜均匀性。本研究为优化刮刀涂布制备光刻胶薄膜工艺提供了新的思路。
中图分类号: