粗糙表面轮廓相关性的倒谱分析

李成贵

(北京航空航天大学仪器学院  北京  100083) 

摘要：基于倒谱分析的基本原理，认为倒谱反映的是信号和信号延迟之间的内在联系，可应用于粗糙表面轮廓的相关性分析。通过对几种典型机械加工试件测试和倒谱分析，并与以往的统计自相关函数描述方法比较后表明，倒谱同样可以用于随机过程表面的相关性分析，而且能非常容易地判别相关长度，相关性分析的灵敏度比自相关函数高。

关键词：表面粗糙度  倒谱分析  自相关函数

中图分类号：TG84  TH161

20030217收到初稿，20030930收到修改稿